單面線路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱
更新時(shí)間:2023-10-17
單面線路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)特征:1.本設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。2.箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑,內(nèi)膽采用不銹鋼板,箱門(mén)中間設(shè)大面積觀察窗,并配有觀察燈,使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。
單面線路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱型號(hào)與規(guī)格: 型號(hào):TS-49 工作室尺寸:H×W×D 350×400×350 外形尺寸: H×W×D 1800×1400×1400 型號(hào):TS-80 工作室尺寸:H×W×D 400×500×400 外形尺寸: H×W×D 1950×1550×1550 型號(hào):TS-100 工作室尺寸:H×W×D 450×500×450 外形尺寸: H×W×D 1550×1450×1550 型號(hào):TS-150 工作室尺寸:H×W×D 500×600×500 外形尺寸: H×W×D 2000×1600×1700 型號(hào):TS-252 工作室尺寸:H×W×D 600×700×600 外形尺寸: H×W×D 2100×1700×1750 型號(hào):TS-450 工作室尺寸:H×W×D 750×800×750 外形尺寸: H×W×D 2200×1800×1900 試驗(yàn)箱的主要技術(shù)指標(biāo) 1.溫度范圍:-20℃、-40℃、-50℃、-60℃、-70℃、-80℃~+100(150)℃ 2.濕度范圍:30%~98%RH 3.溫度波動(dòng)度:±0.5℃ 4.溫度偏差:≤2℃ 5.濕度偏差:+2-3 %RH 6.升降溫速率:0.7~1℃/min 試驗(yàn)箱設(shè)備的安全保護(hù)裝置 1.電源超載、短路保護(hù) 2.接地保護(hù) 3.超溫保護(hù) 4.缺水保護(hù) 5.壓縮過(guò)壓、過(guò)載保護(hù) 6.為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源,并發(fā)出聲訊提示。 試驗(yàn)箱設(shè)備的使用現(xiàn)場(chǎng)的條件 1.溫度:15℃~35℃ 2.相對(duì)濕度:不大于85%RH 3.周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響 4.周?chē)鸁o(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) 5.無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射 6.周?chē)鸁o(wú)強(qiáng)烈氣流,當(dāng)周?chē)諝庑枰獜?qiáng)制流時(shí),氣流不應(yīng)直接吹到箱體上。 7.試驗(yàn)箱應(yīng)放置平穩(wěn),保持水平。 8.試驗(yàn)箱的四周應(yīng)留有一定的距離,方便維修操 試驗(yàn)箱設(shè)備的結(jié)構(gòu)特征 1.本設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。 2.箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑,內(nèi)膽采用不銹鋼板,箱門(mén)中間設(shè)大面積觀察窗,并配有觀察燈,使用戶可以清晰地看到試樣的試驗(yàn)情況。外型整體美觀大方。 3.保溫層為硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡加上少量的超細(xì)玻璃棉,具有強(qiáng)度高,保溫性有好等特點(diǎn)。本設(shè)備采用標(biāo)準(zhǔn)化多功能設(shè)計(jì)、有程序運(yùn)行和恒定運(yùn)行功能。主控制儀采用韓國(guó)進(jìn)口觸摸屏溫濕度控制儀,液晶LCD顯示,具有通訊接口,大容量程序,操作簡(jiǎn)單,用戶可自定義溫、濕度控制曲線進(jìn)行溫濕度試驗(yàn)。 4.升溫、降溫、加濕、去濕獨(dú)立,*的BTSC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。具有定時(shí)功能。 5.制冷系統(tǒng)采用全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)組,機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)。 6.加熱采用不銹鋼翅片加熱管,加濕采用不銹鋼加濕管,加濕方式為蒸汽加濕,水位自動(dòng)控制。 單面線路板冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的: GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 |
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