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半導(dǎo)體pct老化試驗箱

更新時間:2023-10-20

半導(dǎo)體pct老化試驗箱用途:測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

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半導(dǎo)體pct老化試驗箱性能:

1測試環(huán)境條件4、2、 測試方法 環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、

2、溫度范圍 105℃ → +132℃、 (控制點)

3、溫度波動度 ±0、5℃、

4溫度偏差 ±2、0℃

5、濕度范圍 75% ~ 100 %R、H 、 (控制點)

6、濕度波動度 ±2、5 %R、H

7、濕度均勻度 ±50%、

8、壓力范圍 0、5~2㎏/㎝2 (0、05~0、196 MPa) (控制點)

9、升溫時間 常溫 → + 132℃ 35 min 、

10、升壓時間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min

半導(dǎo)體pct老化試驗箱

半導(dǎo)體pct老化試驗箱技術(shù)規(guī)格

<strong><strong><strong><strong>半導(dǎo)體pct老化試驗箱</strong></strong></strong></strong>

pct老化試驗箱的特點:  

1、技術(shù)精密,具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動加水200h。  

2試驗過程中圓幅內(nèi)襯設(shè)計,可避免蒸汽過熱沖擊損失測品。  

3圓型門設(shè)計,能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制,鎖牢固才能啟動試驗機,箱內(nèi)壓力超壓時具有自動泄壓或手動泄壓。  

4、計時安裝,LED數(shù)字型計時器,當鍋內(nèi)溫度達到后計時器確保試驗*,計時從表格1驅(qū)動。

5精準的壓力,溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與溫度,精準壓力+0、2~2、0kg/cm2  

6、試驗開始前使用真空泵抽真空,將機器原來的空氣抽出并過濾與至新鮮空氣一切完整開始試機。  

7、箱內(nèi)經(jīng)過拋光處理經(jīng)久耐用、美觀、不沾污。  

8、運轉(zhuǎn)時流水自動排出未飽和蒸汽已達到飽和。  

9、異常原因及故障指示燈顯示,設(shè)置自動保護LIMIT安全。

<strong><strong><strong><strong>半導(dǎo)體pct老化試驗箱</strong></strong></strong></strong>

pct老化試驗箱試樣限制本試驗設(shè)備禁止:

易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。

半導(dǎo)體pct老化試驗箱用途:

測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區(qū)域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。

半導(dǎo)體pct老化試驗箱

 

 

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